Tίτλος του μαθήματος	Εργαστήριο Τεχνικών Χαρακτηρισμού Υλικών
Κωδικός αριθμός μαθήματος	MSC409
Τύπος του μαθήματος	Υποχρεωτικό
Επίπεδο του μαθήματος	Προπτυχιακό
Έτος σπουδών	Τέταρτο
Εξάμηνο	Έβδομο
Πιστωτικές μονάδες ECTS	5
Όνομα του διδάσκοντος/των διδασκόντων	Δ. Αναστασόπουλος, Επ. Καθηγητής Ε. Βιτωράτος, Καθηγητής Α. Βραδής, Αν. Καθηγητής Στ. Γεωργά, Καθηγήτρια Χρ. Κροντηράς, Καθηγητής Α. Πομόνη, Αν.Καθηγήτρια Ν. Σπηλιόπουλος, Λέκτορας Χρ. Τοπρακτσίογλου, Καθηγητής
Επιδιωκόμενα μαθησιακά αποτελέσματα του μαθήματος	Στο τέλος αυτού του μαθήματος ο φοιτητής θα μπορεί να Διαχωρίζει τις διάφορες τεχνικές χαρακτηρισμού υλικών με βάση την αρχή λειτουργίας τους. Διαχωρίζει τις τεχνικές χαρακτηρισμού υλικών σε επιφανειακές τεχνικές ή τεχνικές όγκου. Επιλέγει ανάλογα με το πρόβλημα την απαιτούμενη τεχνική χαρακτηρισμού. Συνδυάζει περισσότερες από μια τεχχνικές χαρακτηρισμού υλικών για την εξαγωγή της μέγιστης δυνατής πληροφορίας ανάλογα με το πρόβλημα.
Δεξιότητες	Στο τέλος αυτού του μαθήματος ο φοιτητής θα έχει περαιτέρω αναπτύξει τις ακόλουθες δεξιότητες Ικανότητα να επιδεικνύει γνώση και κατανόηση των ουσιωδών εννοιών, αρχών και θεωριών που σχετίζονται με τις διάφορες τεχνικές χαρακτηρισμού υλικών. Να αναγνωρίζει τον απαιτούμενο εργαστηριακό εξοπλισμό για κάθε τεχνική Ικανότητα εργαστηριακής διεξαγωγής ορισμένων απλών τεχνικών και ανάλυσης των αποτελεσμάτων τους. Ικανότητα να αλληλεπιδρά με άλλους σε προβλήματα τεχνικών χαρακτηρισμού υλικών.
Προαπαιτήσεις	Δεν υπάρχουν προαπαιτούμενα μαθήματα. Οι φοιτητές πρέπει να έχουν τουλάχιστον βασική γνώση Σύγχρονης Φυσικής
Περιεχόμενα (ύλη) του μαθήματος	1. Εισαγωγή. Υλικά τεχνολογίας και βασικές ιδιότητές τους. 2.Φυσικές και Χημικές Μέθοδοι Ι (Τεχνικές Ηλεκτρονικής δέσμης) -Ηλεκτρονική Μικροσκοπία Διέλευσης (TEM) -Ηλεκτρονική Μικροσκοπία σάρωσης (SEM) - Φασματοσκοπία Auger 3. Φυσικές και Χημικές Μέθοδοι ΙI (Τεχνικές Iοντικής δέσμης) - Φασματοσκοπία μάζας Ιόντων δευτερογενούς εκπομπής (SIMS) - Οπισθοσκέδαση Ruttherford (RBS) 4.Φυσικές και Χημικές Μέθοδοι ΙII (Τεχνικές ακτίνων X ) - Περίθλαση ακτίνων Χ (XRD) - Ανακλαστικότητα ακτίνων Χ (XRR) 5.Φυσικές και Χημικές Μέθοδοι ΙV (Τεχνικές ακίδας) -Σαρωτική Ηλεκτρονική Μικροσκοπία Διέλευσης (STM) - Μικροσκοπία Ατομικής Δύναμης (AFM) 6.Οπτικές Μέθοδοι -Ελλειψομετρία -Φασματοσκοπία RAMAN -Φασματοσκοπία FTIR 7. Ηλεκτρικές Μέθοδοι -Μετρήσεις Hall -Spreading resistance -Μετρήσεις DC αγωγιμότητας - Μετρήσεις μεταβατικής αγωγιμότητας και φωτοαγωγιμότητας -Διηλεκτρική φασματοσκοπία
Συνιστώμενη βιβλιογραφία προς μελέτη	Σημειώσεις των διδασκόντων
Διδακτικές και μαθησιακές μέθοδοι	- Παραδόσεις στον πίνακα - Παρουσιάσεις με powerpoint - Παράλληλη επίδειξη των παραπάνω τεχνικών που διατίθενται είτε στο Τμήμα Φυσικής ή σε συγγενή Τμήματα του Πανεπιστημίου. - Καθοδηγούμενη μελέτη
Μέθοδοι αξιολόγησης/βαθμολόγησης	-Συμμετοχή στο μάθημα -Παρουσίαση θέματος σχετικού με το περιεχόμενο του μαθήματος. -Γραπτή τελική εξέταση Ο τελικός βαθμός υπολογίζεται ως το άθροισμα : (Βαθμός θέματος x 0.4) + (Βαθμός τελικής εξέτασης x 0.6)
Γλώσσα διδασκαλίας	Ελληνικά. Mπορούν όμως να γίνουν οι παραδόσεις στην Αγγλική γλώσσα στην περίπτωση που αλλοδαποί φοιτητές παρακολουθούν το πρόγραμμα.