Tίτλος του μαθήματος

Εργαστήριο Τεχνικών Χαρακτηρισμού Υλικών

Κωδικός αριθμός μαθήματος

MSC409

Τύπος του μαθήματος

Υποχρεωτικό

Επίπεδο του μαθήματος

Προπτυχιακό

Έτος σπουδών

Τέταρτο

Εξάμηνο

Έβδομο

Πιστωτικές μονάδες ECTS

5

Όνομα του διδάσκοντος/των διδασκόντων

Δ. Αναστασόπουλος, Επ. Καθηγητής
Ε. Βιτωράτος, Καθηγητής
Α. Βραδής, Αν. Καθηγητής
Στ. Γεωργά, Καθηγήτρια
Χρ. Κροντηράς, Καθηγητής
Α. Πομόνη, Αν.Καθηγήτρια
Ν. Σπηλιόπουλος, Λέκτορας
Χρ. Τοπρακτσίογλου, Καθηγητής

Επιδιωκόμενα μαθησιακά αποτελέσματα του μαθήματος

Στο τέλος αυτού του μαθήματος ο φοιτητής θα μπορεί να

1. Διαχωρίζει τις διάφορες τεχνικές χαρακτηρισμού υλικών με βάση την αρχή λειτουργίας τους.
2. Διαχωρίζει τις τεχνικές χαρακτηρισμού υλικών σε επιφανειακές τεχνικές ή τεχνικές όγκου.
3. Επιλέγει ανάλογα με το πρόβλημα την απαιτούμενη τεχνική χαρακτηρισμού.
4. Συνδυάζει περισσότερες από μια τεχχνικές χαρακτηρισμού υλικών για την εξαγωγή της μέγιστης δυνατής πληροφορίας ανάλογα με το πρόβλημα.

Δεξιότητες

Στο τέλος αυτού του μαθήματος ο φοιτητής θα έχει περαιτέρω αναπτύξει τις ακόλουθες δεξιότητες

1. Ικανότητα να επιδεικνύει γνώση και κατανόηση των ουσιωδών εννοιών, αρχών και θεωριών που σχετίζονται με τις διάφορες τεχνικές χαρακτηρισμού υλικών. 
2. Να αναγνωρίζει τον απαιτούμενο εργαστηριακό εξοπλισμό για κάθε τεχνική
3. Ικανότητα εργαστηριακής διεξαγωγής ορισμένων απλών τεχνικών και ανάλυσης των αποτελεσμάτων τους.
4. Ικανότητα να αλληλεπιδρά με άλλους σε προβλήματα τεχνικών χαρακτηρισμού υλικών.

Προαπαιτήσεις

Δεν υπάρχουν προαπαιτούμενα μαθήματα. Οι φοιτητές πρέπει να έχουν τουλάχιστον βασική γνώση Σύγχρονης Φυσικής

1. Φυσικές και Χημικές Μέθοδοι Ι (Τεχνικές Ηλεκτρονικής δέσμης)
   - Ηλεκτρονική Μικροσκοπία Διέλευσης (TEM)
   - Ηλεκτρονική Μικροσκοπία σάρωσης  (SEM)
2. Φυσικές και Χημικές Μέθοδοι ΙI  (Τεχνικές ακτίνων X )
   - Περίθλαση ακτίνων Χ (XRD) (μελέτη κρυσταλλικής δομής στερεών- πολυμερών)
   - Ανακλαστικότητα ακτίνων Χ (XRR) (μελέτη της δομής πολυμερικών υμενίων)
3. Φυσικές και Χημικές Μέθοδοι ΙII  (Τεχνικές  ακίδας) 
   - Μικροσκοπία Ατομικής Δύναμης (AFM)
4. Οπτικές Μέθοδοι
   -  Φασματοσκοπία RAMAN
   - Φασματοσκοπία FTIR(μελέτη δομής και προσρόφησης πολυμερών)
   - Πολωτικό μικροσκόπιο (μελέτη οπτικών ιδιοτήτων και ηλεκτρο-οπτικής απόκρισης ανισότροπων μέσων) - Φασματοσκοπία UV-Vis (παρασκευή νανοσωματιδίων και φασματοσκοπική μελέτη)
5. Φαινόμενα Μεταφοράς 
   - Φαινόμενα μεταφοράς σε χαμηλές θερμοκρασίες (μελέτη ηλεκτρικής αγωγιμότητας και φαιν. Hall σε μέταλλα και ημιαγωγούς)

   - Μελέτη DC αγωγιμότητας και φωτοαγωγιμότητας υλικών
   - Διηλεκτρική φασματοσκοπία (μελέτη διηλεκτρικής συμπεριφοράς σύνθετων υλικών)

Συνιστώμενη βιβλιογραφία προς μελέτη

Σημειώσεις των διδασκόντων

Διδακτικές και μαθησιακές μέθοδοι

-  Παραδόσεις στον πίνακα
-  Παρουσιάσεις με powerpoint
-  Παράλληλη επίδειξη των παραπάνω τεχνικών που  διατίθενται είτε στο Τμήμα Φυσικής ή σε συγγενή Τμήματα του Πανεπιστημίου.
-  Καθοδηγούμενη μελέτη

Μέθοδοι αξιολόγησης/βαθμολόγησης

-  Συμμετοχή στο μάθημα
-  Παρουσίαση θέματος σχετικού με το περιεχόμενο του μαθήματος.
-  Γραπτή τελική εξέταση

         Ο τελικός βαθμός υπολογίζεται ως το άθροισμα :(Βαθμός θέματος x 0.4) +  (Βαθμός τελικής εξέτασης x 0.6)

Γλώσσα διδασκαλίας

Ελληνικά. Mπορούν όμως να γίνουν οι παραδόσεις στην Αγγλική γλώσσα στην περίπτωση που αλλοδαποί φοιτητές παρακολουθούν το πρόγραμμα.